Método utilizado para explorar la estructura cristalina de la materia.

Una de las herramientas no-destructivas más importantes para analizar tanto líquidos como polvos y cristales. El XRD es un método indispensable en el campo de la cristalografía para caracterización de materiales y control de calidad.

MiniFlex 600/300: Único difractómetro de rayos X portátil y fácil de usar con aplicaciones en un amplio rango de áreas como cementos, químicos, cosméticos, educación, medio ambiente, alimentos, forense, geología, mineralogía, recubrimientos, petroquímica, farmacéutica, control de calidad/análisis de falla

Rapid II: Sistema de small molecule. Finalista del premio Elección de los lectores en Equipos de Laboratorio 2009

SmartLab: Ganador del premio 2006 R&D 100 Award para la innovación técnica, especial para análisis de películas delgadas y otros materiales avanzados

TTRAX III: Difractómetro de rayos X θ/θ. Incorpora la tecnología CBO (cross beam optics), patentada por Rigaku, para proporcionar el más amplio rango de geometrías sin necesidad de reconfiguración del sistema

UltimaIV: Sistema multipropósito de difracción de rayos X. Único en el mercado con alineación completamente automática. Cuando se acopla con el CBO, se convierte en el sistema más flexible para desarrollar diferentes mediciones de forma rápida, tales como Bragg-Brentano, Haz Paralelo, SAXS, Stress y Textura, Análisis In Situ, entre otros.