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Microscopía de Fuerza Atómica |
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Herramienta esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas.
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Cypher AFM: AFM de más alta resolución del mundo, con precisión de posicionamiento mejor que 60 picómetros que permite las mediciones más precisas y la mejor nano-manipulación posible
MFP-3D Stand Alone AFM: Para mediciones en tres dimensiones a escala nanométrica. Proporciona la gama más amplia de funcionalidades AFM/SPM disponibles
MFP-3D-BIO AFM: AFM de mayor sensibilidad y exactitud posible sobre una plataforma de óptica invertida
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MFP-3D-CF: Sistema integrado AFM/ Confocal. Combina la potencia de las imágenes confocales con la alta resolución de la microscopía de fuerza atómica
NanoIndenter: Integra las capacidades cuantitativas de los nanoindentadores con la resolución del AFM/SPM para la caracterización avanzada de materiales
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