Herramienta indispensable para el estudio directo de alta resolución de superficies y fuerzas superficiales. Cambiando la sonda, es posible detectar fuerzas magnéticas, fuerzas eléctricas, fuerzas friccionales, elasticidad superficial y viscoelasticidad etc. Ha sido usada desde superficies de semiconductores y dispositivos, películas delgadas, elementos arqueológicos, discos compactos, unidades de disco duro, medios magnéticos, propiedades eléctricas de los materiales, materiales biológicos, entre otros.

JSPM-5200 Scanning Probe Microscope: Microsonda multipropósito que ofrece diversas mediciones y ambientes de prueba.

JSPM-5410 Scanning Probe Microscope: Microsonda que combina alta velocidad, control de escaneo no destructivo, alta resolución de imagen, y observación estable de muestras calientes o frías en alto vacío.